РИД
№ 622071500023-8Программа для обработки вольт-амперных характеристик прибора по регистрации терагерцевого излучения от биообъектов
15.07.2022
Программа разработа в среде разработки MatLab. Программа предназначена для обработка данных, полученных при облучении биообъектов терагерцевым излучением. Исходные данные поступают из программы LabView в формате .file, после чего обрабатываются и выдают текстовый файл .txt, по которому можно анализировать характер и степень воздействия терагерцевого излучения на бообъекты. Функциональные возможности заключаются в возможности выделить вклад, который даёт излучение биообъекта, из всего массива исходных данных.
ГРНТИ
29.03.45 Обработка данных физического эксперимента
Ключевые слова
терагерцевое излучение
вольт-амперная характеристика
обработка экспериментальных данных
Детали
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Автоматизированная обработка экспериментальных данных прибора по регистрации терагерцевого излучения от биообъектов
Ожидается
Исполнитель
Похожие документы
Программа для обработки вольт-амперных характеристик прибора по регистрации терагерцевого излучения от биообъектов
1.000
РИД
Программа для голографической обработки импульсных терагерцовых полей
0.889
РИД
Программа управления предусилителем детектора терагерцового излучения
0.887
РИД
Программа для измерения динамики электро- и магнитооптического отклика материалов
0.879
РИД
Программа для управления процессом измерений электрофизических характеристик импульсных твердотельных источников электромагнитного излучения
0.876
РИД
Программа для измерения поляризационных зависимостей ТГц сигналов
0.873
РИД
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ФИЛЬТРАЦИИ ТЕРАГЕРЦОВОЙ ВИЗУАЛИЗАЦИИ И ФАЗОВЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ
0.873
РИД
Программа обработки результатов измерения магнитных спектров тонких ферромагнитных пленок
0.871
РИД
Программа обработки результатов измерения эффективности экранировки
электромагнитного излучения оптически прозрачных образцов
0.870
РИД
Программное обеспечение программно-аппаратного комплекса для проведения исследования вольтамперных характеристик тонкопленочных образцов материалов фазовой памяти в широком температурном диапазоне
0.869
РИД