РИД
№ 622090500094-9

Программа для оптического контроля состояния светопринимающих и светоизлучающих поверхностей оптоэлектронных приборов

05.09.2022

Программа предназначена для оптического контроля состояний фотоприемных или светоизлучающих поверхностей пластин при помощи компьютера. Программа анализирует изображение поверхностей, вычисляет на любом элементе площади поверхности конфигурацию реальной контактной сетки и занятую ею площадь. Программа также определяет конфигурацию и площадь затеняющих светопринимающую или светоизлучающую поверхность дефектов (пыль, ворс, флюс и т.п.). Программа может быть использована для контроля качества состояния светопринимающих и светоизлучающих поверхностей оптоэлектронных приборов. Также программа может быть использована для оптического контроля качества этапов сборки при лабораторном и промышленном производстве фотоэлектрических модулей. Тип ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК на базе процессора Intel Core 2 Duo; ОС: Windows ХР/7/8.
ГРНТИ
44.41.35 Установки прямого преобразования энергии светового излучения в электрическую
Ключевые слова
светопринимающие и светоизлучающие поверхности
оптический контроль
Детали

Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа может быть использована для контроля качества состояния светопринимающих и светоизлучающих поверхностей оптоэлектронных приборов. Также программа может быть использована для оптического контроля качества этапов сборки при лабораторном и промышленном производстве фотоэлектрических модулей.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программный комплекс для автоматизации измерения оптических характеристик полупроводниковых ячеек
0.898
РИД
Программное обеспечение для автоматической диагностики наличия примесей методом топологического анализа оптических изображений биосенсоров
0.885
РИД
Программа анализа топологии фоточувствительных элементов
0.884
РИД
Программный комплекс автоматического обнаружения дефектов на поверхности кристаллов интегральных микросхем
0.882
РИД
Программный комплекс определения дефектов топологии электронных компонентов
0.881
РИД
Программное обеспечение для автоматизированного комплекса мониторинга и диагностики фотоэлектрических модулей
0.879
РИД
Система оптической регистрации для контроля получения и выделения промышленно важных функциональных соединений
0.876
РИД
Программа для управления работой интегральной схемы сбора и обработки данных пиксельного приемника
0.876
РИД
Программа для измерения частотных характеристик оптического отклика двумерных полупроводниковых материалов
0.874
РИД
Программный комплекс для автоматизации измерения электрических характеристик полупроводниковых ячеек
0.873
РИД