РИД
№ 622100300027-5Программа для ЭВМ «Microstructure Parameters Calculation»
03.10.2022
Программный продукт предназначен для определения параметров микроструктуры образцов – размеров областей когерентного рассеяния (кристаллитов) и величин микронапряжений. Расчет производится на основе информации о положениях и интегральных ширинах дифракционных рефлексов, определение которых происходит за счет моделирования профилей пиков одной из встроенных функций. Нужные параметры определяются с помощью нескольких методик для получения более точной информации, кроме того автоматически производится расчет величин стандартных отклонений.
ГРНТИ
29.31.26 Спектроскопические методы и методики
29.03.85 Автоматизация физического эксперимента с применением ЭВМ
Ключевые слова
микронапряжения
микроструктура
Когерентное рассеяние дифракционные рефлексы
Детали
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Использование в научных институтах и лабораториях для определения параметров микроструктуры образцов – размеров областей когерентного рассеяния (кристаллитов) и величин микронапряжений.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
Заказчик
Правительство Российской Федерации
Похожие документы
Определение параметров кристаллической решетки с использованием метрического тензора
0.894
РИД
Программа для ЭВМ «Lattice Calculation»
0.880
РИД
Программное обеспечение анализа структурно-механических характеристик металлических материалов при многоэтапном пластическом деформировании
0.876
РИД
Программа для расчета мультифрактальных параметров сетки плоских сечений межзеренных границ керамических сегнетоактивных материалов
0.874
РИД
Программа обработки фотографий микроструктуры образцов с распределением частиц по размерам и форме
0.873
РИД
Программный комплекс для расчёта распределения диаметров пор в оптически плотных средах на основе данных малоуглового рентгеновского рассеяния
0.872
РИД
Модуль вычисления плотностей распределения вероятностей упругих деформаций в зернах поликристаллических материалов при деформировании
0.872
РИД
Определение параметров ячейки кристаллической структуры методом наименьших квадратов
0.869
РИД
Программа для микроструктурного анализа конструкционных сплавов
0.869
РИД
Программный комплекс для анализа данных малоуглового рентгеновского рассеяния и предсказания размеров зародышей нанокристаллитов в аморфной фазе оксифторидных стекол, допированных оксидами редкоземельных металлов
0.869
РИД