Программа оценивания коэффициента экстинкции подложки по ее спектрам отражения и пропускания

Экспериментальные спектрофотометрические методы, направленные на оценку оптических параметров тонкослойных покрытий, нанесенных на подложку, используют данные о спектре пропускания. Поиск точных оптических параметров требует учета эффекта поглощения энергии электромагнитной волны в материале подложки. Данная программа позволяет получить значения коэффициентов удельного поглощения положки (для каждой длины волны) по экспериментальным результатам измерения спектров отражения и пропускания и, как следствие, вычислить соответствующие значения коэффициента экстинкции.