Вычисление эффективности экранирования и вносимых потерь металлических, композитных, тканых или многослойных материалов, измеренных в сдвоенной и коаксиальной TEM-камерах

Программа предназначена для вычисления эффективности экранирования и вносимых потерь на основе измеренных матриц рассеяния материалов в сдвоенной и коаксиальной TEM-камерах. Исходными данными для программы являются частотные зависимости амплитуд и фаз матриц рассеяния для ненагруженной (без материала) и нагруженной (с материалом) ТЕМ-камер, полученные, используя измерения или электродинамическое моделирование. Оператор программы считывает результаты измеренных или вычисленных частотных зависимостей матриц рассеяния и устанавливает требуемый диапазон частот, электрические (при необходимости) и геометрические параметры материала, а также вид ТЕМ-камеры. Загруженные и введённые оператором данные позволяют программе вычислить частотные зависимости эффективности экранирования и вносимых потерь