РИД
№ 622122300283-7Оценка излучаемых эмиссий от печатной платы с модальным резервированием путём виртуальных испытаний в мини-TEM-камере
23.12.2022
Программа предназначена для получения оценки уровня излучаемых эмиссий от печатных плат с модальным резервированием путём виртуальных испытаний с помощью мини-TEM-камере, без измерений в реальной камере. В начале вводятся параметры расчёта. Затем задаются геометрические параметры печатной платы и камеры и параметры их сегментации. Далее происходит построение структур, схем и вычисление параметров линий передачи. Затем вычисляется частотной отклик структуры, определяется уровень напряжения на концах центрального проводника камеры, эти данные сохраняются и отображаются результаты.
ГРНТИ
47.05.15 Электромагнитная совместимость
Ключевые слова
ОЦЕНКА УРОВНЯ ИЗЛУЧАЕМЫХ ЭМИССИЙ
ПЕЧАТНАЯ ПЛАТА
TEM-КАМЕРА
МОДАЛЬНОЕ РЕЗЕРВИРОВАНИЕ
ВИРТУАЛЬНЫЕ ИСПЫТАНИЯ
Детали
НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа может быть использована для получения оценки уровня излучаемых эмиссий от печатных плат с модальным резервированием путём виртуальных испытаний с помощью мини-TEM-камере
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ТОМСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ"
Заказчик
Российский научный фонд
Похожие документы
Программа для анализа проводных рассеивателей методом моментов с разными базисными функциями
0.856
РИД
Анализ откликов микрополосковых устройств защиты со структурой проводников в виде меандра с учетом влияния травления
0.849
РИД
Программа для расчета параметров межуровневой разводки для адаптивного микрозеркала
0.842
РИД
Оценка влияния коэффициентов травления на характеристики одиночной микрополосковой линии
0.837
РИД
Программа аналитического расчета геометрических размеров логических МЭМС вентилей на основе гребенчатых резонаторов
0.836
РИД
Программа для оценки излучаемой эмиссии от защитных меандровых линий
0.835
РИД
Компьютерное моделирование и экспериментальные исследования нанометровых пленочных, включая активные, структур для современной электроники
0.834
РИД
Вычисление эффективности экранирования и вносимых потерь металлических, композитных, тканых или многослойных материалов, измеренных в сдвоенной и коаксиальной TEM-камерах
0.834
РИД
Программа расчета параметризуемой модели для построения топологии интегрального микромеханического резонатора
0.834
РИД
Распространение электростатического разряда по витку меандровой микрополосковой линии
0.833
РИД