СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПРОФИЛЯ ВДОЛЬ ЛИНИИ СКАНИРОВАНИЯ И ПРОФИЛЯ ПОВЕРХНОСТИ ПО ИЗОБРАЖЕНИЮ, ПОЛУЧЕННОМУ С ЦИФРОВОГО УСТРОЙСТВА

Изобретение относится к способам неразрушающего исследования, контроля и диагностики состояния твёрдой поверхности, определения параметров рельефа и микрорельефа по фотоснимку, получаемому с помощью цифрового оптического устройства и анализируемого на персональном компьютере. Цифровое устройство для получения изображения поверхности оснащается матрицей светодиодов, расположенных вокруг объектива цифрового устройства на одинаковых расстояниях от центра объектива и друг от друга, обеспечивающих равномерное освящение поверхности монохроматическим светом с узкой шириной спектра излучения. Способ заключается в том, что исследуемая поверхность предварительно покрывается тонким, однотонным, матовым, однородным слоем из поверхностно-активного материала толщиной не более неоднородностей микрорельефа. для уменьшения влияния несущественных деталей рельефа, например небольшой шероховатости, съёмку изображения поверхности производят в условиях расфокусировки оптической системы цифрового устройства, при этом величина расфокусировки определяется конкретным типом поверхности и поставленной задачей. Результатом является профиль поверхности, полученный вдоль линии сканирования и профилограмма поверхности в виде её трехмерного изображения.