РИД
№ 623030700007-2

Программа для расчёта неограниченной кристаллографической текстуры по данным результатов рентгеновской дифракции

07.03.2023

Программа для выполнения расчета индексов оси кристаллографической текстуры поликристаллических материалов, кристаллическая структура которых относится к кубической сингонии. Программа может быть интересна специалистам, работающим в самых различных областях материаловедения. Для выполнения расчетов необходимо наличие двумерных дифрактограмм, полученных с использованием метода дифракции рентгеновского излучения. Программа может использоваться в образовательных и научных организациях, работающих в области физического материаловедения.
ГРНТИ
29.19.04 Структура твердых тел
53.49.07 Физические свойства металлов и сплавов
53.49.19 Методика исследований металлов и сплавов и лабораторное оборудование
Ключевые слова
кристаллическая решетка
дифракция
кристаллографическая текстура
пластическая деформация
Детали

НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
материаловедение, физика, металлофизика
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Новосибирский государственный технический университет»
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа для расчета гомогенных напряжений на основании анализа результатов синхротронной рентгеновской дифракции
0.928
РИД
Определение параметров кристаллической решетки с использованием метрического тензора
0.920
РИД
Програмное обеспечение текстурного анализа поликристаллических материалов с кубической решеткой по прямым полюсным фигурам.
0.916
РИД
Программа для определения текстуры поликристаллов и мозаичности кристаллов с помощью полупроводникового детектора
0.907
РИД
Программа расчета компактной матричной модели строения кристаллической решетки
0.901
РИД
Представление информации о структуре веществ из международной кристаллографической базы данных
0.900
РИД
Определение параметров ячейки кристаллической структуры методом наименьших квадратов
0.898
РИД
Программа для расчета картин дифракции электронов от кубического кристалла
0.897
РИД
Программа определения параметров элементарной ячейки всех сингоний c возможностью выбора системы отражений и установки кристаллов
0.891
РИД
Программа расчета распределения по размерам кристаллитов и оценки текстуры по данным рентгеновской дифракции
0.891
РИД