РИД
№ 623061400023-9Определение параметров глубоких уровней полупроводниковых структур
14.06.2023
Программа предназначена измерения и обработки зависимости емкости полупроводниковой структуры от температуры исследуемого объекта. Тип ЭВМ: PC. OC:MS DOS 6.22.
Функциональные возможности программы: Программа циклически опрашивает вольтметр, измеритель емкости и источник напряжения. Программа предусматривает поддержание линейного нагрева объекта (необходимое условие диагностики), измерение температуры и емкости объекта, завись полученных результатов в файл. Также предусмотрена постэкспериментальная обработка результатов измерения на основе метода термостимулированной емкости полупроводниковых структур, которая позволяет определять энергию глубокого центра в запрещенной зоне.
ГРНТИ
50.41.25 Прикладное программное обеспечение
Ключевые слова
исследование полупроводниковых образцов
автоматизированный измерительный комплекс
Электрические характеристики
Детали
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа может использоваться в области контроля качества производства полупроводниковых компонент и научных исследованиях.
Ожидается
Исполнитель
Заказчик
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ФОНД СОДЕЙСТВИЯ РАЗВИТИЮ МАЛЫХ ФОРМ ПРЕДПРИЯТИЙ В НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЙ СФЕРЕ"
Похожие документы
Программа измерения параметров подзатворного диэлектрика структур металл-диэлектрик-полупроводник при их тестировании методом возрастающего тока
0.915
РИД
Программный комплекс для автоматизации измерения электрических характеристик полупроводниковых ячеек
0.911
РИД
Программа управления специализированной установкой для определения градуировочных коэффициентов полупроводниковых устройств
0.905
РИД
Управляющая программа автоматизированным устройством для определения теплового сопротивления силовых полупроводниковых приборов
0.892
РИД
Автоматизация измерений гальваномагнитных и термоэлектрических свойств пленок полуметаллов
0.891
РИД
Программа для управления установкой температуры металлургической границы p-n перехода
0.889
РИД
Управляющая программа автоматизированным устройством для определения температурного коэффициента напряжения силовых полупроводниковых приборов
0.889
РИД
Программа для расчета вольт-фарадных характеристик сегнетоэлектрических материалов в заданном интервале с использованием прецизионного LCR-метра Agilent Е4980А
0.887
РИД
Программа измерения параметров структур металл-диэлектрик-полупроводник при использовании методов управляемой токовой нагрузки и вольт-фарадных характеристик
0.886
РИД
Программа исследования температурной зависимости диэлектрической проницаемости конденсаторов
0.885
РИД