РИД
№ 623122900101-7Программа расчета параметров зонной перекристаллизации в градиенте температур для получения непоглощающих окон в двойной лазерной гетероструктуре GaAs/AlxGa1-xAs/GaAs
29.12.2023
Программа предназначена для расчета параметров метода зонной перекристаллизации в градиенте температур для получения лазерной гетероструктуры GaAs/AlxGa1-xAs/GaAs с заданным распределением алюминия по толщине. Изменяя технологические параметры: температура Т, толщина жидкой зоны L, можно добиться необходимой концентрации алюминия и его распределения в активной области лазерной гетероструктуры GaAs/AlxGa1-xAs/GaAs для эффективной работы полупроводникового лазера на его основе. Возможно создать распределение концентрации алюминия и, соответственно, ширины запрещенной зоны симметрично относительно исходного распределения, что позволит сохранить волноводную структуру лазера и, следовательно, имеется возможность уменьшения рассеивания пучка выходного излучения из активной области гетеролазера. Для проведения расчетов необходимо знать область ограничивающих факторов, при которых невозможно проводить процесс перекристаллизации.
ГРНТИ
29.19.31 Полупроводники
29.19.16 Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела
29.19.25 Взаимодействие проникающего излучения с твердыми телами
Ключевые слова
GaAs
ЗПГТ
III-V
гетероструктуры
твердые растворы
Детали
НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа будет использована в научно-образовательном центре фотовольтаики и нанотехнологии СКФУ для снижения временных и материальных издержек при проведении экспериментов по получению многокомпонентных полупроводниковых пленок и гетероструктур соединений III-V методом зонной перекристаллизации в градиенте температур.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "СЕВЕРО-КАВКАЗСКИЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа расчета параметров зонной перекристаллизации в градиенте температур для получения непоглощающих окон в двойной лазерной гетероструктуре GaAs/AlxGa1-xAs/GaAs
0.985
РИД
Программа по расчету оптимальных параметров роста светоизлучающих гетероструктур на основе массива квантовых точек арсенида индия, внедренных в матрицу кремния
0.902
РИД
Программа для моделирования профиля диффузии Zn в гетероструктурах InGaAs/InAlAs/InP с учетом сегрегации
0.902
РИД
ПРОГРАММНОЕ СРЕДСТВО РАСЧЕТА ТОЛЩИНЫ И СОСТАВА КВАНТОВОЙ ЯМЫ В ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ГЕТЕРОСТРУКТУРЕ InGaAs/GaAs ДЛЯ ДОСТИЖЕНИЯ ДЛИНЫ ВОЛНЫ ИЗЛУЧЕНИЯ 976 НМ
0.891
РИД
Программа для вычисления материальных параметров полупроводниковых твердых растворов GaPAs и GaPNAs
0.887
РИД
Гибридная модель синтеза упорядоченных наноструктур In/AlGaAs на комплексных поверхностях с различной огранкой
0.886
РИД
Моделирование процессов капельной эпитаксии наноструктур In/GaAs на подложке с модифицированными участками трапециевидной формы
0.881
РИД
Программа расчета концентрационных зависимостей механизмов рекомбинации в твердом растворе GaPNAs
0.880
РИД
Программа для моделирования процессов формирования наноструктур In/AlGaAs(001) методом капельной эпитаксии
0.880
РИД
Программа для моделирования процессов автоэпитаксиального роста GaAs/GaAs(111)A методом Монте-Карло
0.879
РИД