Определение параметров кристаллической решетки с использованием метрического тензора

Программа предназначена для выполнения расчета параметра кристаллической решетки. Программа может быть интересна специалистам, работающим в самых различных областях материаловедения. Для выполнения расчетов необходимо проведение профильного анализа, с целью определения позиций пиков интенсивности, двумерных дифрактограмм, полученных с использованием метода дифракции синхротронного рентгеновского излучения. Программа может использоваться в образовательных и научных организациях, работающих в области физического материаловедения.