РИД
№ 624012605443-9

Программа для расчёта вольт-амперных характеристик функционализированных наноматериалов

26.01.2024

Программа предназначена для расчета токовых характеристик суперъячеек наноструктурированных наноматериалов, функционализированных различными примесными атомами, кластерами и наночастицами. С ее помощью можно изучать закономерности протекания тока в наноструктурах, в том числе количественно оценивать их электропроводные свойства. Программа позволяет проводить расчеты для структур различной топологии, в том числе композитных наноструктур, состоящих из объектов различной размерности.
ГРНТИ
47.09.48 Наноматериалы для электроники
29.19.25 Взаимодействие проникающего излучения с твердыми телами
29.19.22 Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
Ключевые слова
наноматериалы
электропроводность
вольт-амперные характеристики
транспорт электронов
функционализация
Детали

НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа может быть использована для расчета структур различной топологии, в том числе композитных наноструктур, состоящих из объектов различной размерности.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского"
Заказчик
Российский научный фонд
Похожие документы
Программный модуль расчёта вольт-амперных характеристик тонких металлических наноструктурированных пленок
0.919
РИД
Программа для расчета эффективных параметров композитных материалов на основе углеродных нанотрубок
0.890
РИД
Программа для расчета эффективных параметров композитных материалов на основе углеродных нанотрубок
0.889
РИД
Программа для тестирования вольт-амперных характеристик углеродных композиционных материалов
0.886
РИД
Программа для расчета параметров полевого транзистора с затвором на основе нанопроволок оксида меди и различной плотностью ловушек на поверхности затвора
0.885
РИД
Программа для расчета вольт-фарадных характеристик сегнетоэлектрических материалов в заданном интервале с использованием прецизионного LCR-метра Agilent Е4980А
0.885
РИД
Программа для моделирования вольт-амперных характеристик перовскитных фоточувствительных структур
0.881
РИД
Программа для расчета вольт-амперных характеристик мемристоров
0.881
РИД
Программа для двумерного моделирования низкочастотных спектров электрохимического импеданса ионообменных мембран с частично блокированной поверхностью под действием постоянного электрического тока
0.879
РИД
Программа для тестирования электропроводящих композиционных пленок
0.878
РИД