РИД
№ 624012605770-6Программа для проведения измерения методом спектроскопии с временным разрешением с динамически меняющимся временным шагом
26.01.2024
Основное назначение программы – автоматизация проведения измерений методом спектроскопии с временным разрешением. Программа позволяет считывать, записывать и отображать графически данные, полученные с трех различных каналов синхронного усилителя, что позволяет в реальном времени отслеживать изменение сигналов во время эксперимента. Динамическое изменение временного шага линии задержки позволяет в рамках одного эксперимента проводить измерения в нескольких временных диапазонах. Программа разработана для автоматизации лабораторных стендов и устройств, которые предназначены для исследования динамических характеристик полупроводниковых и магнитных структур. Тип ЭВМ: IBM PC - совмест. ПК; ОС: Windows XP/Vista/7/8/10/11.
ГРНТИ
29.19.11 Дефекты кристаллической структуры
29.19.15 Фазовые равновесия и фазовые переходы
Ключевые слова
спектроскопия
временное разрешение
автоматизация
Детали
НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Автоматизация проведения измерений методом спектроскопии с временным разрешением
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МИРЭА - РОССИЙСКИЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа для автоматизации экспериментальной установки по исследованию материалов методом накачки-зондирования
0.901
РИД
Программа для измерения динамики электро- и магнитооптического отклика материалов
0.891
РИД
Программа для записи и обработки оптических спектральных характеристик в масштабе реального времени
0.887
РИД
Программа для измерения электрических параметров полупроводниковых материалов в мегагерцевом диапазоне
0.887
РИД
Программа обработки и анализа спектральных данных комбинационного рассеяния света в режиме реального времени
0.886
РИД
Система автоматического синхронного многоканального сбора данных измерительного оборудования для характеризации выходных параметров: непрерывных лазерных систем, лазерных систем, излучающих наносекундные и ультракороткие импульсы, источников оптического излучения, работающих в переходных режимах
0.883
РИД
Программа для измерения частотных характеристик оптического отклика двумерных полупроводниковых материалов
0.882
РИД
Программа автоматизации высокочастотного ЭПР/ОДМР спектрометра
0.882
РИД
Программа для исследования оптического отклика образцов с возможностью изменения координат и температуры
0.881
РИД
Программа для измерения спектральных характеристик материалов
0.881
РИД