Устройство для измерения теплопроводности

Технический результат изобретения - увеличение функциональных возможностей метода плоского слоя, путем возможности исследовать коэффициент теплопроводности электролитов, пористых сред, насыщенных, как гомогенными, так и несмешивающимися жидкими растворами, наноразмерных жидких систем: микроэмульсий, наножидкостей, мицеллярных растворов, магнитных жидкостей в интервале температур (-100°С) - (+500°С) и при различных давлениях, включая области фазовых переходов и критического состояния вещества. Устройство состоит из 2 измерительных ячеек, изготовленных из однородного материала, размещенных сверху и снизу от нагревателя, в одной из ячеек (верхней) размещается образцовый материал теплопроводности, а исследуемое вещество полностью находится в полости нижней ячейки, ее пластинами с толщиной, достаточной для обеспечения жесткости и подвода термопар, их боковых стенок предельно тонких и фиксирующих зазор между измерительными пластинами, и пластинами, имеющими каналы, выходящие на рабочую поверхность ячеек, центрирующего и направляющего охранного кольца от нагревателя, на которую надеваются горячие пластины обеих ячеек. Основным преимуществом относительного метода измерения теплопроводности в сравнении с абсолютным методом является: простота конструкции устройства; сокращение времени проведения измерения; возможность исследования широкого спектра веществ, исследование теплопроводности расслаивающихся систем в пористых средах, исследование теплопроводности веществ, находящихся в области фазовых переходов второго рода и критических точек растворов. Такое стало возможным за счет использования в конструкции устройства образцовых и эталонных материалов теплопроводности, применения отдельных ячеек, внутри которых находятся исследуемый и эталонный образцы. Оригинальным в устройстве является и то, что исследуемое вещество не контактирует с электроизмерительными и теплоизмерительными системами, т.е. они изолированы.