Устройство для измерения шумов тонких магнитных пленок в СВЧ-диапазоне

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля качества магнитных пленок и изучения их высокочастотных характеристик путем регистрации спектральной плотности амплитуды шумов образцов. Устройство содержит параллельный колебательный контур, включающий емкость и индуктивность, в качестве которой используется несимметричная полосковая линия. Внутри линии размещают исследуемый образец тонкой магнитной пленки, а сама линия вместе с образцом размещены внутри магнитной системы, формирующей постоянное магнитное поле. Параллельный колебательный контур соединен через конденсатор с СВЧ-генератором и напрямую с амплитудным детектором, нагруженным на вход низкочастотного анализатора спектра. Техническим результатом является обеспечение возможности измерения магнитных шумов в СВЧ-диапазоне. 4 ил.