Способ косвенного измерения толщины микродуговых оксидных покрытий и устройство для его осуществления

Предлагаемый способ косвенного измерения толщины микродуговых оксидных покрытий относится к электроизмерительной технике и предназначен для оценки толщины покрытия в электролитической ванне на основе измерения оптических параметров микроразрядов на поверхности образца, может быть использовано для расширения возможностей управления процессом микродугового оксидирования на синусоидальном токе, может применяться в машино- и приборостроении, авиационной, радиоэлектронной и других отраслях промышленности. Технический результат – повышение точности косвенного измерения толщины микродуговых оксидных покрытий на основе измерения оптических параметров микроразрядов за счет использования метода оптической синхронизации. Изобретение получено при выполнении проекта Министерства науки и высшего образования РФ № 1022041100284-5-2.3.1 на тему «Фундаментальные основы цифрового двойника технологического процесса формирования оксидных покрытий с заданными свойствам методом микродугового оксидирования»