РИД
№ 625010900400-9

Измерение электросопротивления топологических, полупроводниковых и металлических материалов при высоких температурах

09.01.2025

Программа разработана для автоматического измерения электросопротивления топологических , полупроводниковых и металлических материалов , таких как Вейлевские полуметаллы, топологические изоляторы, сплавы Гейслера и т.п. при высоких температурах . В программе реализован учет различного рода особенностей, связанных как с материалом образцов (например, большая величина «паразитного» термоэлектрического эффекта некоторых систем), так и с самим процессом измерений (например, управление скоростью нагрева образцов и заданным «термопрофилем»). Данная программа полностью автоматизирует измерительный процесс. Программа универсальная, кроссплатформенная и интерфейсно независимая, поддерживает любые соответствующие приборы, имеющие возможность подключения к ПК
ГРНТИ
29.03.35 Электрические и магнитные измерения в физическом эксперименте
Ключевые слова
Электросопротивление
транспортные свойства
Детали

НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа может быть использована для автоматического измерения электросопротивления топологических, полупроводниковых и металлических материалов, таких как Вейлевские полуметаллы, топологические изоляторы, сплавы Гейслера и т.п. при высоких температурах в полностью автоматическом режиме
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики металлов имени М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Измерение электронных транспортных свойств металлических и полупроводниковых материалов
0.933
РИД
Измерение температурных зависимостей электросопротивления тонкопленочных и объемных образцов
0.930
РИД
Измерение температурных зависимостей электросопротивления тонкопленочных и объемных образцов
0.930
РИД
Анализ и обработка экспериментальных данных по размерному эффекту в электросопротивлении топологических материалов
0.911
РИД
Оценка вкладов от поверхности и объема в электросопротивление топологических изоляторов и вейлевских полуметаллов
0.904
РИД
Выделение поверхностного и объемного вкладов в электросопротивлении топологических материалов и анализ их температурной зависимости
0.898
РИД
Программа автоматизированного измерения вольт-амперных характеристик ВТСП лент с защитой от квенча
0.878
РИД
Анализ и выделение топологического эффекта Холла в материалах со спиновой текстурой
0.876
РИД
Программа для тестирования электропроводящих композиционных пленок
0.875
РИД
Программа автоматизации измерения наноструктур Measuring
0.874
РИД