РИД
№ 625011000756-3Устройство для измерений упругих, термоупругих характеристик материалов на атомно-силовом микроскопе
10.01.2025
Полезная модель относится к исследованиям материалов с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ) и может использоваться для исследования поверхностных процессов наноструктурирования при деформационных воздействиях. Технической проблемой, на решение которой направлена полезная модель, является необходимость повышения точности реальновременных измерений при наноструктурных
перестроениях в поверхностных слоях,исследуемых образцов, при деформационных воздействиях, исключающем ручное создание напряжений. Технический результат, на достижение которого направлена полезная модель устройства, встраиваемого в АСМ, заключается в возможности проведения реально-временных исследованиях процессов и измерении размеров наноструктурирования при деформационных и тепловых воздействиях.
ГРНТИ
29.19.22 Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
Ключевые слова
атомно-силовой микроскоп
упроугость
термоупругость
Детали
Тип РИД
Полезная модель
Сферы применения
Исследование поверхностных процессов наноструктурирования при деформационных воздействиях
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Юго-Западный государственный университет"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Грант РНФ 23-22-00064 "Развитие методов анализа поверхностных и подповерхностных свойств полимеров и покрытий методами атомно-силовой микроскопии"
0.902
НИОКТР
Устройство для измерения физико-механических свойств материалов
0.893
РИД
Разработка методов анализа экспериментальных данных атомно-силовой микроскопии для исследования структуры и свойств эластомерных нанокомпозитов
0.888
Диссертация
Устройство для создания контролируемых упругих напряжений в тонкой пленке, осажденной на
подложку
0.886
РИД
Зонд для атомно-силовой микроскопии высокого разрешения
0.885
РИД
Устройство для измерения механических свойств материалов
0.884
РИД
Методы атомно-силовой микроскопии для неразрушающего анализа электромеханических свойств наноструктур
0.882
Диссертация
Измерительно-силовая головка для наноиндентирования
0.882
РИД
Способ измерения механических напряжений в МЭМС структурах
0.880
РИД
Аппаратно-программный комплекс механической спектроскопии
0.878
РИД