База данных рентгеноструктурного анализа композитов на основе сверхвысокомолекулярного полиэтилена

07.11.2025

База данных содержит результаты рентгеноструктурного анализа полимерных композиционных материалов на основе сверхвысокомолекулярного полиэтилена. Анализ проведен на рентгеновском порошковом дифрактометре марки ARL X’Tra (фирма ThermoFisherScientific, Zug, Швейцария). В качестве источника излучения использована рентгеновская трубка с медным анодом (λ(CuKα)=0,154 нм). Углы сканирования составляют от 3° до 60°, шаг сканирования 0,05° и время накопления в каждой точке 3 с в режиме отражения. Образцы были получены методом горячего прессования и представляют собой пластины размером 30×30 мм и толщиной 2,0±0,1 мм.

ГРНТИ

61.61.29 Усиленные пластмассы, композиционные и наполненные материалы

Ключевые слова

полимерный композиционный материал

степень кристалличности

cверхвысокомолекулярный полиэтилен

Детали

НИОКТР

№ 123041200018-4

Тип РИД

База данных

Сферы применения

База данных позволяет оценить влияние технологии модификации и вводимых наполнителей на структурную организацию сверхвысокомолекулярного полиэтилена, и может быть использована научными институтами и образовательными учреждениями.

Ожидается

Исполнитель

Исполнители

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "СЕВЕРО-ВОСТОЧНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ М.К. АММОСОВА"

Заказчик

МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Похожие документы

БАЗА ДАННЫХ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА КОМПОЗИТОВ НА ОСНОВЕ СВЕРХВЫСОКОМОЛЕКУЛЯРНОГО ПОЛИЭТИЛЕНА

0.977

РИД

База данных результатов дифференциальной сканирующей калориметрии композиционных материалов на основе сверхвысокомолекулярного полиэтилена

0.929