РИД
№ 625110700018-5Программное обеспечение прототипа устройства обнаружения дефектов поверхности с помощью технологий компьютерного зрения в реальном времени
07.11.2025
Программа предназначена для обеспечения функционирования прототипа устройства, решающего задачу проверки печатных плат на присутствие визуально заметных дефектов
Программа обеспечивает выполнение следующих функций:
-получение изображения с модуля встроенной камеры;
-предобработку полученного изображения и формирование сигнала;
-обработка сигнала сетью ESN с целью определения наличия/отсутствия дефекта;
-вывод результатов;
-а также дообучение сети ESN на устройстве.
ГРНТИ
47.14.23 Оценивание и обеспечение надежности радиоэлектронной аппаратуры
28.23.37 Нейронные сети
28.23.15 Распознавание образов. Обработка изображений
Ключевые слова
микроконтроллер
датасеты
контроль дефектов поверхности
компьютерное зрение
промышленное производство
нейросети
Искусственный интеллект
Детали
НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
дефектоскопия в микроэлектронике
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ОБЩЕСТВО С ОГРАНИЧЕННОЙ ОТВЕТСТВЕННОСТЬЮ "УМНЫЕ ДЕВАЙСЫ"
Заказчик
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ФОНД СОДЕЙСТВИЯ РАЗВИТИЮ МАЛЫХ ФОРМ ПРЕДПРИЯТИЙ В НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЙ СФЕРЕ"
Похожие документы
Разработка прототипа устройства обнаружения дефектов поверхности с помощью технологий компьютерного зрения в реальном времени
0.913
НИОКТР
Программа для обнаружения и анализа дефектов микрополосковых плат
0.905
РИД
Программный модуль детекции дефектов с блоком визуализации
0.897
РИД
Программный комплекс определения дефектов топологии электронных компонентов
0.895
РИД
Программа распознавания дефектов на печатных платах
0.895
РИД
Программа для автоматизированного обнаружения дефектов на деталях с использованием компьютерного зрения
0.891
РИД
Программа контроля дефектов трубопроводов для многопозиционной оптико-электронной системы технического зрения автономного робота
0.889
РИД
Программный комплекс автоматического обнаружения дефектов на поверхности кристаллов интегральных микросхем
0.889
РИД
Программный модуль проверки положения полупроводниковых кристаллов и электронных компонентов относительно референсных по видеоданным
0.883
РИД
Разработка и тестирование прототипа системы интеллектуального визуального контроля качества микроэлектронных изделий (заключительный)
0.882
ИКРБС