Программа полуавтоматической сегментации и количественного анализа двумерных кристаллитов на микроскопических изображениях

Назначение – программа предназначена для интерактивной разметки и подсчета площади сегментов на микроскопических изображениях образцов материалов методом ручного обведения контуров с последующим автоматическим расчетом площади в пикселях; имеет графический интерфейс пользователя. Область применения – учебно-научные лаборатории материаловедения и нанотехнологий, исследовательские центры физики твердого тела, анализ распределения двумерных монослойных кристаллитов дихалькогенидов переходных металлов на подложках, морфологический анализ тонких пленок и наноструктур. Функциональные возможности – поддерживается загрузка микроскопических изображений в форматах JPG, JPEG, PNG, GIF, BMP из указанной папки; реализовано интерактивное рисование замкнутых контуров произвольной формы мышью с визуализацией в реальном времени; автоматический подсчет площади выделенных сегментов в пикселях методом заливки маски; навигация по серии изображений с помощью кнопок и горячих клавиш (A – предыдущее, D – следующее); автоматическое сохранение результатов измерений в текстовый файл с временной меткой, названием изображения и площадью сегмента; отображение всех выполненных измерений в прокручиваемом окне записей; возможность удаления последней записи с помощью кнопки или горячей клавиши X; очистка текущего контура для повторной разметки; отображение нормированной масштабной линейки длиной 192 пикселя в левом нижнем углу изображения; счетчик пикселей внутри выделенного контура в реальном времени.