РИД
№ 625122400579-7Программа для расчетов коэффициентов дифракционного отражения и пропускания тепловых нейтронов
24.12.2025
Программа предназначена для моделирования угловых зависимостей коэффициентов дифракционного отражения и пропускания тепловых нейтронов от совершенных кристаллов в геометрии Брэгга
ГРНТИ
29.19.19 Методы исследования кристаллической структуры и динамики решетки
29.15.35 Прохождение ядерных частиц и гамма-квантов через вещество
29.03.77 Моделирование физических явлений
Ключевые слова
Динамическая дифракция
нейтронная оптика
геометрия Брэгга
Детали
НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Нейтронная оптика, планирование и обработка экспериментов в схеме двухкристального нейтронного спектрометра
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ЦЕНТР "КУРЧАТОВСКИЙ ИНСТИТУТ"
Заказчик
Правительство Российской Федерации
Похожие документы
Программный комплекс для расчёта распределения диаметров пор в оптически плотных средах на основе данных малоуглового рентгеновского рассеяния
0.886
РИД
Программный комплекс для анализа данных малоуглового рентгеновского рассеяния и предсказания размеров зародышей нанокристаллитов в аморфной фазе оксифторидных стекол, допированных оксидами редкоземельных металлов
0.881
РИД
Программа для расчета дифракционной эффективности и амплитуды поля первой пространственной
гармоники фоторефрактивной голограммы в кристаллах ниобата лития с поверхностным
легированием медью
0.877
РИД
Программа вычисления коэффициентов отражения микрополосковой решетки с нелинейными включениями
0.875
РИД
Программа для расчета коэффициентов отражения и прозрачности одноямной двухбарьерной и двухъямной трехбарьерной резонансно-туннельных структур методом трансформации волнового импеданса
0.873
РИД
Программа для расчета картин дифракции электронов от кубического кристалла
0.872
РИД
Вычисление эффективности отражения рентгеновского излучения реальными поверхностями
0.871
РИД
Программный комплекс для расчета спектрально-угловых характеристик ПРИ, ДПИ, ПРИВ и ПИ релятивистских электронов, пересекающих составные структуры
0.871
РИД
Дифракция ограниченного рентгеновского пучка на микроканальной пластине
0.870
РИД
Программа для решения задачи двух тел
0.869
РИД