БАЗА ДАННЫХ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА КОМПОЗИТОВ НА ОСНОВЕ СВЕРХВЫСОКОМОЛЕКУЛЯРНОГО ПОЛИЭТИЛЕНА

24.12.2025

База данных содержит результаты рентгеноструктурного анализа полимерных композиционных материалов на основе сверхвысокомолекулярного полиэтилена. Анализ проведен на рентгеновском порошковом дифрактометре марки ARL X’Tra (фирма ThermoFisherScientific, Zug,Швейцария). В качестве источника излучения использована рентгеновская трубка с медным анодом (λ(CuKα)=0,154 нм). Углы сканирования составляют от 3° до 60°, шаг сканирования 0,05° и время накопления в каждой точке 3 с в режиме отражения. Образцы были получены методом горячего прессования и представляют собой пластины размером 30×30 мм и толщиной 2,0±0,1 мм. База данных позволяет оценить влияние технологии модификации и вводимых наполнителей на структурную организацию сверхвысокомолекулярного полиэтилена, и может быть использована научными институтами и образовательными учреждениями. Тип ЭВМ: IBM PC-совмест. ПК; ОС: Windows.

ГРНТИ

31.15.17 Кристаллохимия и кристаллография

Ключевые слова

сверхвысокомолекулярный полиэтилен

рентгеноструктурный анализ

степень кристалличности

полимер

Детали

НИОКТР

№ 123041200018-4

Тип РИД

База данных

Сферы применения

База данных может быть использована при разработке и конструированию износостойких материалов и изделий на основе сверхвысокомолекулярного полиэтилена.

Ожидается

Исполнитель

Исполнители

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "СЕВЕРО-ВОСТОЧНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМЕНИ М.К. АММОСОВА"

Заказчик

МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Похожие документы

База данных рентгеноструктурного анализа композитов на основе сверхвысокомолекулярного полиэтилена

0.977

РИД

БАЗА ДАННЫХ РЕЗУЛЬТАТОВ ТРИБОТЕХНИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛИЭФИРЭФИРКЕТОНА И ПОЛИМЕРНЫХ КОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ НА ЕГО ОСНОВЕ

0.928