Магнитооптическое исследование магнитных свойств низкоразмерных тонкопленочных систем на основе железа и кобальта

Цель: исследование влияния толщины и состава магнитных и немагнитных слоев в трехслойных Fe/Ta-, Mo-, Zr/Fe-, Co/Mo/Co- и FeNi/Ti/FeNi-образцах на их магнитополевое поведение и магнитные свойства, а также магнитохимической обработки FeN тонкопленочных систем при наличии магнитного поля разной ориентации и величины относительно плоскости образцов - на морфологию их поверхности и магнитные характеристики. Обнаружено, что зависимость поля насыщения трехслойных Fe/Zr-, Мо-, Та/Fe-, Со/Мо/Со-образцов от толщины немагнитного (Zr, Мо, Та) слоя имеет осциллирующий характер, обусловленный осцилляционным поведением обменного взаимодействия между магнитными слоями через немагнитный слой с изменением толщины немагнитного слоя. Период осцилляций поля насыщения зависит от толщины магнитного слоя. Найдена толщина титановой прослойки (равная 5 нм), при которой трехслойный FeNi/Ti/FeNi-образец характеризуется оптимальными магнитомягкими свойствами, минимальными значениями поля насыщения и коэрцитивной силы. Установлено, что приповерхностные рельефные образования, появляющиеся после химической обработки одно- и трехслойных FeN-образцов при наличии приложенного параллельно или перпендикулярно поверхности образца магнитного поля, являются причиной различия приповерхностных локальных значений поля насыщения и коэрцитивной силы. Получение одновременно информации об объемных и приповерхностных магнитных характеристиках ферромагнетиков, включая тонкопленочные системы, особенно важно при разработке магнитных материалов, широко применяемых в современных устройствах микроэлектроники. Даны рекомендации по получению тонкопленочных магнитных систем с магнитными свойствами для их дальнейшего практического применения в различных устройствах микро- и наноэлектроники, а также спинтроники.