Магнитные и структурные свойства тонкопленочных трехслойных систем на основе кобальта с кремнием, висмутом и медью

Проведено исследование структуры, морфологии и магнитных характеристик Co/Si/Co, Co/Bi/Co и Co/Cu/Co тонкопленочных магнитных систем, а также сравнительное изучение магнитополевого поведения и магнитооптических свойств трехслойных Co/Si/Co, Co/Bi/Co и Co/Cu/Co и двухслойных Co/Si, Si/Co, Bi/Co образцов. Обнаружено, что толщина Si, Bi и Cu слоев влияет на магнитополевое поведение Co/Si/Co, Co/Bi/Co и Co/Cu/Co образцов, проявляющееся в изменении формы петель гистерезиса. Найдено, что значения поля насыщения, HS, и коэрцитивной силы, HС, Co/Si/Co, Co/Bi/Co, Co/Cu/Co образцов осциллируют по величине с ростом толщины Si, Bi и Cu слоев. Установлены особенности и причины осцилляционных зависимостей HS и HС от толщины Si, Bi, Cu слоев. Обнаружено влияние толщины Si слоев на величину и спектральную зависимость экваториального эффекта Керра Co/Si/Co образцов. Обнаружено, что вид спектральных зависимостей ЭЭК идентичен для всех исследуемых трехслойных Co/Вi/Co образцов, а величина магнитооптических сигналов тонкопленочных Со/Bi/Co и Bi/Со структур уменьшается с ростом толщины слоя висмута.