- ИССЛЕДОВАНИЕ И РАЗВИТИЕ БАЗОВОЙ ТЕХНОЛОГИИ ОЦЕНКИ И ПРОГНОЗИРОВАНИЯ СТОЙКОСТИ К ВОЗДЕЙСТВИЮ ОТДЕЛЬНЫХ ЯДЕРНЫХ ЧАСТИЦ НА ЭТАПАХ РАЗРАБОТКИ И ПРОИЗВОДСТВА ФУНКЦИОНАЛЬНО-СЛОЖНОЙ ТВЕРДОТЕЛЬНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ КОМПОНЕНТНОЙ БАЗЫ

Разработаны технические и методические средства оценки стойкости современной и перспективной электронной компонентной базы к воздействию ОЯЧ-спецфакторов с характеристиками 7И1…7И4, 7С1…7С3, 7К9…7.К12 и атмосферных нейтронов в процессе разработки и производства; проведена апробация технических и методических средств оценки стойкости современной и перспективной ЭКБ к воздействию ОЯЧ; выполнены анализ и обобщение результатов радиационных исследований и испытаний изделий микроэлектроники, сверхвысокочастотных и мощных полупроводниковых приборов на воздействие ОЯЧ. Разработаны проект нормативного документа по оценке стойкости изделий микроэлектроники, СВЧ- и мощных полупроводниковых приборов к воздействию ОЯЧ в процессе разработки и производства, предложения по записям в ТЗ и технические условия на поставку изделий микроэлектроники, СВЧ- и мощных ППП, а также типовых формулировок по их стойкости к воздействию ОЯЧ.