ИКРБС
№ АААА-Б19-219100490007-1Исследование изменения характеристик диодов Шоттки при воздействии специальных факторов и определение стойкости к ним на моделирующих и имитирующих установках в соответствии с утвержденной программой-методикой испытаний"
30.10.2018
Проведена оценка соответствия многокристальных модулей 3005НХ014А, разрабатываемых в рамках СЧ "Кварта-ВЗПП-С-НИИП", требованиям технического задания по стойкости к воздействию специальных факторов. Стадия разработки - проведение предварительных испытаний. Разрабатываемые модули не имеют функциональных аналогов.
ГРНТИ
50.51.02 Общие проблемы автоматизации проектирования
50.51.17 Программное обеспечение процессов проектирования
Ключевые слова
МОДЕЛИРОВАНИЕ
ПРОЕКТИРОВАНИЕ
ИСПЫТАНИЯ
РАДИАЦИЯ
СТОЙКОСТЬ
Детали
Заказчик
Открытое акционерное общество "Воронежский Завод Полупроводниковых Приборов-Сборка"
Исполнитель
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный лесотехнический университет им. Г.Ф. Морозова"
Похожие документы
Исследование изменения характеристик диодов Шоттки при воздействии специальных факторов и определение стойкости к ним на моделирующих и имитирующих установках в соответствии с утвержденной программой-методикой испытаний
0.924
НИОКТР
Исследование изменения характеритсик серий модулей на диодах Шоттки в металлопластмассовых корпусах на токи 150-24-А, напряжение 200 В при воздействии внешних факторов и определение стойкости к ним на моделирующих установках в соответствии с утвержденной программой
0.911
ИКРБС
Исследование изменения макетных образцов ряда полупроводниковых приборов и ИС при воздействии внешних факторов и определение стойкости к ним на моделирующих и имитирующих установках в соответствии с утвержденной программой-методикой испытаний
0.896
НИОКТР
Тестовая ячейка для контроля качества изготовления диодов Шоттки на карбиде кремния
0.887
РИД
Обеспечение проведения научных исследований
0.880
НИОКТР
Исследование изменения характеристик малопотребляющих КМОП интегральных микросхем управления затвором силовых МОП транзисторов и БТИЗ при воздействии специальных факторов 7И и определение стойкости к ним на моделирующих установках в соответствии с утвержденной программой-методикой испытаний
0.880
НИОКТР
Исследование изменения характеристик малопотребляющих КМОП интегральных микросхем управления затвором силовых МОП транзисторов и БТИЗ при воздействии специальных факторов 7К11, 7К12 и определение стойкости к ним на моделирующих установках в соответствии с программой-методикой испытаний
0.880
НИОКТР
Исследование изменения характеристик арсенид-галлиевых выпрямительных быстровосстаналивающихся диодов и сборок диодных при воздействии специальных факторов 7К11, 7К12 и определение стойкости к ним на моделирующих установках в соответствии с программой-методикой испытаний
0.879
ИКРБС
Исследование изменения характеристик арсенид-галлиевых выпрямительных быстровосстаналивающихся диодов и сборок диодных при воздействии специальных факторов 7К11, 7К12 и определение стойкости к ним на моделирующих установках в соответствии с программой-методикой испытаний
0.878
НИОКТР
Тестовый элемент для контроля качества изготовления высоковольтных карбидокремниевых диодов Шоттки
0.867
РИД