Разработка методов диагностики и исследование параметров наносистем с использованием методов просвечивающей электронной микроскопии, сканирующей зондовой микроскопии, высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии, рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и источников интенсивного рентгеновского излучения на базе европейской установки XFEL

Объектом НИР являются новые функциональные наноматериалы, перспективные для применения в нано- и оптоэлектронике. Целью НИР является разработка и исследование новых методов исследования структуры и функциональных свойств наносистем с высоким пространственным, энергетическим и временным разрешением с помощью комплекса методов, включающих рентгеновский лазер на свободных электронах (European XFEL). Для исследования наносистем используется взаимодополняющий комплекс методов, позволяющий получать информацию о их форме и размерах, элементном составе, электронной структуре и магнитных свойствах.