НИОКТР
№ АААА-А20-120091490131-1Исследование электрически активных точечных и протяженных дефектов в новом широкозонном полупроводнике alpha- и beta-Ga2О3, гетероструктурах и мембранах на их основе
14.09.2020
Проект направлен на разработку технологии выращивания и исследование электрически активных структурных дефектов в новом перспективном широкозонном полупроводнике -оксиде галлия. Свойства данных дефектов решающим образом определяют возможности гетероструктурных приборов, таких как диоды Шоттки, полевые транзисторы MOSFET, HEMT, MISHEMT, и других ключевых элементов современной силовой техники. В работе предлагается исследование слоев и гетероструктур двух основных структурных политипов: альфа- и бета-фазы оксида галлия. Если beta-Ga2O3 в некоторой степени детально исследован, то alfa-Ga2O3 попал в область пристального внимания исследователей совсем недавно в силу ряда своих преимуществ. Так ширина запрещенной зоны у этой фазы больше, структура более высокосимметричная, типа корунда, что делает возможным получение высококачественных слоев на стандартных сапфировых подложках. Обе фазы оксида галлия имеют свои достоинства, что делает этот материал сильным конкурентом современным доминатам полупроводникового материаловедения: кремнию, карбиду кремния, нитриду галлия, особенно в области высоковольтной и радиационно-стойкой электроники. В данной работе планируется выполнить большой объем технологических исследований по получению высококачественных слоев оксида галлия обоих политипов с рекордными параметрами. Исследовать распределение примеси по высоте слоя в толстых слоях. Получить и исследовать слои твердых растворов оксида галлия – оксида алюминия, а также гетероструктур на их основе. Сформировать и исследовать гетероконтакты p-GaN/n-Ga2O3 на предмет их электронных свойств. Провести ростовые эксперименты по росту оксида галлия на алмазе. Исследовать вопрос переноса гетероструктур с ростовых подложек на приборные. Детально изучить спектры глубоких уровней в кристаллах, эпитаксиальных плёнках и гетеропереходах на основе оксидов галлия, в особенности, для мало изученной альфа-фазы и гетеропереходов с нитридами третьей группы и алмазом. Изготовить макетные образцы диодов и транзисторов на основе выращенных структур.
ГРНТИ
47.09.48 Наноматериалы для электроники
Ключевые слова
Широкозонный полупроводник
слои
оксид галлия
дефекты
глубокие уровни
Детали
Начало
22.04.2019
Окончание
31.12.2021
№ контракта
19-19-00409
Заказчик
Российский научный фонд
Исполнитель
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС"
Бюджет
Средства фондов поддержки научной и (или) научно-технической деятельности: 17 900 000 ₽
Похожие документы
Исследование электрически активных точечных и протяженных дефектов в новом широкозонном полупроводнике alpha- и beta-Ga2О3, гетероструктурах и мембранах на их основе
1.000
НИОКТР
Исследование электрически активных точечных и протяженных дефектов в новом широкозонном полупроводнике α- и β-Ga2o3, гетероструктурах и мембранах на их основе.
0.957
НИОКТР
ОТЧЕТ О НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОЙ РАБОТЕ по теме: Исследование электрически активных точечных и протяженных дефектов в новом широкозонном полупроводнике alpha- и beta-Ga2O3, гетероструктурах и мембранах на их основе (промежуточный, 1 этап)
0.950
ИКРБС
ОТЧЕТ О НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОЙ РАБОТE по теме: Исследование электрически активных точечных и протяженных дефектов в новом широкозонном полупроводнике alpha- и beta-Ga2O3, гетероструктурах и мембранах на их основе (промежуточный, 2 этап)
0.945
ИКРБС
Отчет о научно-исследовательской работе по теме Исследование электрически активных точечных и протяженных дефектов в новом широкозонном полупроводнике alpha- и beta-Ga2O3, гетероструктурах и мембранах на их основе (промежуточный, 1 этап)
0.944
ИКРБС
Исследование и разработка наноматериалов на основе оксида галлия с контролируемым дефектно-примесным составом для применений в перспективных электронных устройствах
0.942
НИОКТР
Физические основы получения объёмных кристаллов, подложек и эпитаксиальных структур в системе β-(AlxGa1-x)2O3 / β-(InxGa1-x)2O3 / β-Ga2O3
0.935
НИОКТР
Исследование электрических характеристик и спектров глубоких центров в кристаллах и эпитаксиальных пленках Ga2O3 влияющих на характеристики приборных структур
0.933
НИОКТР
Физические основы технологии ионно-лучевой обработки оксида галлия для создания приборов силовой электроники
0.926
НИОКТР
Характеристики слоев alpha-, beta-, kappa(epsilon)-фаз Ga2O3, выращенных методом хлорид-гидридной газофазной эпитаксии на различных типах подложек
0.925
Диссертация