Создание высокоточных методов мониторинга, диагностики и дефектоскопии на основе технического зрения рентгеновского диапазона и элементов искусственного интеллекта

В ближайшие годы в России планируется каскадно осваивать новые производственные процессы в микроэлектронике и обрабатывающей промышленности. В этой связи критическим становится вопрос контроля качества производимых изделий и устройств. Одним из наиболее эффективных методов неразрушающего контроля является рентгеновская компьютерная томография (КТ). В то же время использование сильнопоглощающих и рассеивающих материалов в аддитивном производстве создает сложные помехи при процедуре томографии, чем затрудняют идентификацию дефектов (например – поры, включения, трещины). Контроль качества ответственных узлов методом рентгеновской томографии с одной стороны требует получения качественной реконструкции объекта, позволяющей построить векторную модель объекта, а с другой возможности сопоставления полученной модели с заранее известной, с целью обнаружения дефектов производства. Таким образом, основными задачами в рамках темы являются: 1. Создание метода томографической реконструкции многослойных металлизированных объектов, устойчивого к их крайне высокой анизотропии оптической плотности. 2. Создание метода взаимного выравнивания и оценивания отклонения воксельной полутоновой реконструкции объекта и векторной модели его поверхности. 3. Создание методов томографической реконструкции, бинаризации и сегментации объектов из сильнопоглощающих и рассеивающих материалов.