Программа для исследования сбоев и отказов в флеш-памяти

Программа предназначена для проведения тестирования микросхем различных типов флеш-памяти (однослойной и многослойной). Программа получает потоки сбоев и отказов, возникающих в различных областях памяти, и позволяет провести статическую их обработку. Обличительным особенностями программы являются: возможность программы изменять условия работы микросхем памяти (управлять температурой внешней среды и напряжением питания); оперативно отправлять полученные результаты тестирования в единый центр хранения, отображения и обработки информации при помощи Wi-Fi интернет соединения; допускает автономный режим работы; позволяет обнаруживать и анализировать ошибки типа временного сбоя; тестировать большой набор различных микросхем памяти.