РИД
№ АААА-Г20-620060990023-5

Комплекс программ стенда электрического и функционального тестирования многокристальных гибридных микросхем

09.06.2020

Назначение: автоматизированное тестирование электрического соединения кристаллов внутри микросхемы. Программный комплекс включает в себя: управляющее приложение, выполняемое на персональном компьютере; программа для микроконтроллерного исполнительного устройства. Область применения: оценка качества сборки многокристальных микросхем на производстве. Функциональные возможности: 1) проведение электрических тестов, включающих в себя проверку входных/выходных сигнальных линий микросхемы; 2) проведение функциональных тестов, включающих в себя перечень операций чтения идентификаторов микросхем памяти, операций записи и чтения по шаблону; 3) журналирование и запись в файл результатов тестирования.
ГРНТИ
47.13.13 Технология и оборудование для производства радиодеталей и компонентов
47.33.31 Интегральные микросхемы
Ключевые слова
ЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ
ФУНКЦИОНАЛЬНОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ
МНОГОКРИСТАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ
Детали

Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Комплекс программ в составе стенда для проведения электрического и функционального тестирования может быть использован для оценки качества сборки многокристальных микросхем, тестирования JEDEC совместимых микросхем флеш-пямяти. Комплекс может применяться для выявления ошибок сборки, отработки технологии сборки или при настройке параметров технологических линий завода-изготовителя при производстве мелкосерийных партий микросхем.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Петрозаводский государственный университет"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
УСТРОЙСТВО ТЕСТИРОВАНИЯ МНОГОКРИСТАЛЬНОЙ МИКРОСХЕМЫ
0.905
РИД
Программный комплекс для технологических испытаний микросхем интеллектуальных силовых ключей
0.891
РИД
Программа для автоматизированного комплекса функционального тестирования промышленных образцов интегральных микросхем памяти на соответствие стандарту ONFi «NAND Flash Memory Tester»
0.883
РИД
Программа выбора элементов встроенного тестирования для проектирования цифровых блоков вычислительных систем
0.875
РИД
Комплект программ системы управления стендом ресурсных испытаний силовых транзисторов в статическом режиме
0.872
РИД
Разработка и выпуск универсального контрольно-испытательного комплекса нового поколения для проведения электротермотренировки и испытаний на безотказность изделий ЭКБ широкой номенклатуры с измерением основных параметров электрических и температурных воздействий, регистрацией и документированием основных параметров режимов испытаний
0.872
НИОКТР
Разработка и организация серийного производства универсальной масштабируемой контрольно-измерительной платформы в комплекте с многовыводными УКФ (зондовыми картами) нового поколения для автоматизированного тестирования быстродействующих СБИС широкой номенклатуры
0.870
НИОКТР
Программный комплекс автоматизированного проектирования универсальных многоразрядных микропроцессоров с широким набором периферийных устройств и моделирования воздействия на них внешних факторов
0.870
РИД
Устройство функционального тестирования микросхем flash-памяти на базе ПЛИС
0.869
РИД
Специализированное программное обеспечение микроконтроллера для исследования электрических характеристик микросборок силовых ключей
0.869
РИД