Программа для измерения частотных характеристик оптического отклика двумерных полупроводниковых материалов

Исследование частотных характеристик отклика двумерных полупроводников при их облучении высокоинтенсивным оптическим излучением является важной задачей для современной электроники. Область применения программы - автоматизация лабораторных стендов и устройств, предназначенных для исследования оптически-индуцированных процессов в полупроводниковых материалах, для осуществления их программного согласования и создания четкой логической структуры их взаимодействия при выполнении экспериментальных работ. Функциональные возможности программы заключаются в полной автоматизации научного оборудования (оптических детекторов, источников оптического излучения, оптических модуляторов, анализаторов аналоговых сигналов и т.д.) для проведения научных исследований, а также автоматический анализ полученных частотных характеристик полупроводниковых материалов, что позволяет значительно сократить активное участие оператора во время проведения эксперимента и повысить достоверность получаемых данных. Тип ЭВМ: IBM РС-совмест. ПК; ОС: Windows XP/Vista/7/8/10.