РИД
№ 621122200143-6Программа для записи и расчета диэлектрических параметров гетероструктур в зависимости от времени с использованием измерителя LCR Agilent E4980A
22.12.2021
Программа предназначена для записи и расчета диэлектрических параметров в зависимости от времени для конденсаторных структур на основе сегнетоэлектрических и диэлектрических материалов при частоте переменного электрического поля f= 20…2e6 Гц с использованием прецизионного LCR-метра Agilent E4980A, в интервале температур 300…970K, а также при наличии изменяющегося по соответствующему закону смещающего напряжения величиной в интервале U = -40…+40 V.
ГРНТИ
29.19.35 Сегнето- и антисегнетоэлектрики
Ключевые слова
релаксация
гетероструктуры
сегнетоэлектрики
Детали
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
может быть использована при исследовании и тестировании временной стабильности или релаксационных эффектов диэлектрических параметров конденсаторных гетероструктур металл- сегнетоэлектрик-металл и металл-сегнетоэлектрик-полупроводник.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Южный федеральный университет"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа для расчета вольт-фарадных характеристик сегнетоэлектрических материалов в заданном интервале с использованием прецизионного LCR-метра Agilent Е4980А
0.947
РИД
Программа для расчета C(U) зависимостей конденсаторных структур с использованием LCR-метра Agilent E4980A
0.937
РИД
Программа автоматического расчета различных параметров размытия максимума диэлектрической проницаемости сегнетоэлектрических материалов, измеряемой с помощью RLC-метра Agilent E4980A
0.930
РИД
Программа автоматического расчета различных параметров размытия максимума диэлектрической проницаемости сегнетоэлектрических материалов, измеряемой с помощью RLC-метра Agilent Е4980А
0.929
РИД
Программа для исследования диэлектрических свойств сегнетопьезоматериалов с помощью прецизионного LCR-метра WayneKerr4300
0.925
РИД
Автоматическое измерение и расчет различных пьезоэлектрических параметров пьезоэлектрических материалов в интервале Т=(300-900)К с помощью RLC-метра Agilent Е4980А и термоконтроллера РТС10
0.913
РИД
Программа исследования температурной зависимости диэлектрической проницаемости конденсаторов
0.908
РИД
Программа автоматического измерения и расчета различных пьезоэлектрических параметров пьезоэлектрических материалов при изменении величины измерительного сигнала с помощью RLC-метра Agilent Е4980А
0.907
РИД
Автоматическое измерение и расчет различных пьезоэлектрических параметров пьезоэлектрических материалов в интервале Т=(300-900)K с помощью RLC-метра Agilent E4980A и термоконтроллера PTC10
0.904
РИД
Программа компьютерной визуализации электрических характеристик при работе с измерителем иммитанса Е5-20
0.898
РИД