Устройство для неинвазивного измерения локального магнитного поля нанообъектов на основе джозефсоновского контакта на кантилевере магнитно-силового микроскопа

Изобретение относится к области криогенных нанотехнологий, а именно к устройствам, способным измерять очень маленькие магнитные поля, иметь хорошее разрешение при сканировании, измерять небольшие изменения температуры, детектировать электромагнитное излучение и диссипацию энергии. Основной составляющей изобретения является стандартный зонд магнитно-силового микроскопа, состоящий из джозефсоновского контакта, выполненного в планарной технологии из гибридной структуры сверхпроводник-нормальный металл-сверхпроводник на конце кантилевера, а также четырех подводящих сверхпроводящих электродов на чипе кантилевера для пропускания тока через нормальный слой в области слабой связи и измерения напряжения на устройстве. Процесс зондовой микроскопии дает возможность в реальном времени и пространстве контролировать позицию нанозонда с нанометровой точностью, тем самым обеспечивая возможность исследования различных свойств поверхности объекта.