РИД
№ 622110900102-2

Программа для моделирования спектров пропускания и отражения слоистых структур на толстой подложке с учётом интерференции в слоях

09.11.2022

Программа предназначена для определения толщины слоя и дисперсии его комплексного показателя преломления из аппроксимации рассчитанных данных к экспериментальным данным пропускания и отражения света. Программа позволяет работать со слоистой структурой, содержащей до десяти слоёв, при этом должны быть известны толщины и оптические константы всех слоёв, за исключением одного, параметры которого нужно определить. Интерференция учитывается в слоях, но не учитывается в толстой подложке. Программа может быть использована для определения края поглощения плёнок. Разработка выполнена на базе оборудования ЦКП "ВТАН" НГУ. Язык программирования: Python. Объем программы для ЭВМ: 28 КБ
ГРНТИ
29.31.21 Оптика твердых тел
Ключевые слова
ОТРАЖЕНИЕ
ПРОПУСКАНИЕ
ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ
ПЛЁНКИ
Детали

НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа может быть использована для определения края поглощения в диэлектрических или полупроводниковых плёнках.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "НОВОСИБИРСКИЙ НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа расчёта поляризационных свойств слоистых отражающих структур и моделирования спектров эллипсометрии
0.923
РИД
Программа для моделирования спектров инфракрасного поглощения и отражения твердотельными плёнками в рамках модели Друде-Лоренца без учёта интерференции
0.918
РИД
Программа расчета спектра фотонной структуры с 2D метаслоями
0.906
РИД
Программа для моделирования параметров перестраиваемой многослойной оптической структуры
0.905
РИД
Программа для моделирования спектров инфракрасного поглощения и отражения на основе подхода Друде-Лоренца с учётом интерференции в твердотельных плёнках
0.902
РИД
Программный модуль расчета коэффициентов отражения, прохождения и поглощения в видимом диапазоне для тонких наноструктурированных пленок
0.901
РИД
ПРОГРАММНОЕ СРЕДСТВО ДЛЯ РАСЧЕТА ТОЛЩИНЫ ОТСЕЧКИ ПЛАНАРНОГО ИНТЕГРАЛЬНО-ОПТИЧЕСКОГО ВОЛНОВОДА МЕТОДОМ b/V ДИАГРАММ
0.901
РИД
Программа расчета спектра 1D фотонной структуры в случае полярной магнитооптической конфигурации
0.900
РИД
Программа расчета спектральных характеристик фотонных кристаллов с монослоем наночастиц
0.899
РИД
Программа обработки спектра коэффициента отражения интерференционного зеркала с ошибками по толщине для поиска неизвестного показателя преломления слоя из нового тонкопленочного материала
0.896
РИД