РИД
№ 623011100397-9

Экспресс-способ определения сквозной пористости микродуговых покрытий

11.01.2023

Изобретение относится к области физико-химического анализа и может быть использовано для контроля качества оксидных покрытий на поверхностях металлов. Настоящее изобретение преимущественно относится к определению сквозной пористости для МДО покрытий на алюминии и его сплавах. Возможно также использование данного метода применительно к МДО покрытиям на титане, цирконии, магнии. Заявленный способ заключается в том, что проводят предварительную катодную обработку на образце с микродуговым покрытием при фиксированном катодном (отрицательном) потенциале, а сквозную пористость микродугового покрытия определяют путём вычисления отношения значения плотности тока для образца с покрытием к значению плотности тока на основном металле или сплаве при выбранном одном и том же фиксированном анодном (положительном) значении потенциала. Технический результат заявленного изобретения позволяет увеличить достоверность получаемых результатов при относительной простоте способа и расширяет арсенал технических средств аналогичного назначения.
ГРНТИ
31.15.33 Электрохимия
31.17.15 Неорганическая химия
Ключевые слова
МДО покрытия
микродуговое покрытие
катодная обработка
физико-химический анализ
Детали

НИОКТР
Тип РИД
Изобретение
Сферы применения
экспресс анализ сквозной пористости покрытий на вентильных металлах, полученных микродуговым оксидированием.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ ФИЗИЧЕСКОЙ ХИМИИ И ЭЛЕКТРОХИМИИ ИМ. А.Н. ФРУМКИНА РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Способ косвенного измерения толщины микродуговых оксидных покрытий и устройство для его осуществления
0.896
РИД
Способ косвенного измерения толщины микродуговых оксидных покрытий и устройство для его осуществления
0.896
РИД
Способ оценки толщины и пористости МДО-покрытия в электролитической ванне на основе измерения импеданса
0.885
РИД
Способ определения толщины многофазной оксидной пленуи на метллических порошках различной дисперсности
0.882
РИД
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СРЕДНЕГО РАЗМЕРА СУБНАНОПОР В МЕТАЛЛООКСИДНЫХ НАНОМАТЕРИАЛАХ С ИЕРАРХИЧЕСКОЙ СТРУКТУРОЙ
0.877
РИД
Способ определения толщины оксидных покрытий деталей машин
0.876
РИД
Способ реализации устройства для проведения в режиме реального времени синхротронных исследований процессов синтеза покрытий вакуумно-дуговым плазменно-ассистированным напылением
0.874
РИД
Способ получения покрытий на поверхностях глубоких сквозных отверстий в изделиях из сплавов вентильных металлов
0.873
РИД
Способ мониторинга характеристик пленок пористых диэлектриков на подложке из полупроводника в условиях криогенного плазменного травления
0.872
РИД
Способ получения сквозных отверстий с высокой плотностью на фольгированных полиимидных пленках с адгезивным подслоем.
0.870
РИД