РИД
№ 623042500096-1

База данных оптических констант материалов для спектральной эллипсометрии

25.04.2023

База данных содержит оптические константы различных материалов в структурированных текстовых файлах. Каждый файл назван в соответствии с химической формулой или названием материала. В файле указано название базы данных «Database of optical constants for spectral ellipsometry», источник данных и таблица числовых значений с оптическими константами. Значения оптических констант для различных длин волн необходимы при моделировании спектров пропускания, отражения, в том числе поляризованного света для метода эллипсометрии. Расширение текстовых файлов «.el» позволяет использовать их в программах моделирования «Spectr» и «SpectroEllips». Разработка выполнена в ЦКП "ВТАН" НГУ, поддержанном грантом МНВО РФ №075-15-2021-697. СУБД: Spectr, SpectroEllips, AkelPad. Система: OC Windows 10. Объём БД: 4 Mб.
ГРНТИ
20.53.19 Средства обработки и поиска информации
29.31.21 Оптика твердых тел
29.03.31 Оптические методы измерения в физическом эксперименте
29.03.45 Обработка данных физического эксперимента
Ключевые слова
СЛОИСТАЯ СТРУКТУРА
ПРЕЛОМЛЕНИЕ
ПОГЛОЩЕНИЕ
ДИСПЕРСИЯ
ОПТИЧЕСКИЕ КОНСТАНТЫ
Детали

Тип РИД
База данных
Сферы применения
Способы использования – информация о спектральных характеристиках материалов необходима для моделирования оптических свойств различных объектов и структур, при обработке экспериментальных данных методов эллипсометрии и рефлектометрии.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Новосибирский национальный исследовательский государственный университет"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
База данных оптических свойств, полимер-стабилизированных наночастиц металлов
0.880
РИД
База данных для обучения модели расчета оптических свойств материалов
0.869
РИД
База данных по седиментационным характеристикам нанопорошковых полупроводниковых оксидных материалов
0.867
РИД
База данных халькогенидных стекол
0.865
РИД
Зависимости оптических свойств функциональных тонкопленочных покрытий от технологических режимов их синтеза
0.863
РИД
Систематизация методов и средств измерений и контроля электрофизических и оптических параметров прозрачных проводящих покрытий.
0.863
РИД
Создание базы данных по спектрам комбинационного рассеяния для акустооптических спектрометров
0.861
ИКРБС
База данных свойств и параметров углеродных структур (графен, оксид графена, графит, нанографит, алмазоподобный углерод)
0.861
РИД
Создание базы данных оптических констант, экспериментальное исследование интерференционных покрытий
0.858
ИКРБС
База данных рентгеноструктурного анализа композитов на основе сверхвысокомолекулярного полиэтилена
0.858
РИД