Программный комплекс определения дефектов топологии электронных компонентов

Программа предназначена для поиска, идентификации и классификации дефектов топологии печатных плат, а также микросхем кремниевых подложек. Область применение - выходной и входной оптический контроль изделий на наличие поверхностных дефектов и соответствие конструкторской документации. Технический результат, который может быть получен при использовании программы – повышение скорости и качества проведения визуального контроля топологии различных электронных компонентов (печатных плат и микросхем на кремниевых подложках). Достигается результат за счёт применения нейросетевой обработки изображений поступающей от камеры высокого разрешения. Программа предназначена для поиска, идентификации и классификации дефектов топологии печатных плат, а также микросхем кремниевых подложек. Область применение - выходной и входной оптический контроль изделий на наличие поверхностных дефектов и соответствие конструкторской документации. Нейронная сеть заранее обучена на выявления определенного вида дефектов , что позволяет ей эффективно определять их наличие на поверхности того или иного рассматриваемого образца. Тип ЭВМ: IBM PC - совмест. ПК; ОС: Linux с ядром 2.6 и выше.