Программа обнаружения наночастиц на изображениях с электронного микроскопа на основе метода экспоненциальной аппроксимации

01.12.2023

Программа предназначена для определения положениях и радиуса наночастиц на изображениях с электронного микроскопа с помощью метода экспоненциальной аппроксимации. Программа позволяет снизить временные затраты для анализа изображений с электронного микроскопа и существенно повысить эффективность исследований.

ГРНТИ

28.23.15 Распознавание образов. Обработка изображений

Ключевые слова

анализ изображений

СЭМ-изображения

обнаружение мелких ярких объектов

обнаружение наночастиц

Детали

НИОКТР

№ 121122800034-6

Тип РИД

Программа для ЭВМ

Сферы применения

Детектированные наночастицы на изображении с электронного микроскопа являются основой для анализа факта или степени упорядоченности расположения наночастиц. Кроме того, результаты детектирования могут быть использованы как соответствующие обучающие прецеденты для построения систем предсказания каталитической активности на основе степени упорядоченности расположения наночастиц для систем компьютерного зрения.

Ожидается

Исполнитель

Исполнители

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ТУЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ"

Заказчик

МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Похожие документы

Программа автоматического вычисления физических характеристик наночастиц на основе СЭМ-изображений