Программа определения структурированности наночастиц на СЭМ-изображениях

16.11.2024

Программа определения структурированности наночастиц на СЭМ-изображениях предназначена для классификации изображений со сканирующего электронного микроскопа (СЭМ-изображения) на основе соответствующих признаков структурированности.

ГРНТИ

28.23.15 Распознавание образов. Обработка изображений

Ключевые слова

особенности упорядоченности множества

обнаружение наночастиц

анализ изображений

машинное обучение

Детали

НИОКТР

№ 124041700040-9

Тип РИД

Программа для ЭВМ

Сферы применения

Определение структурированности наночастиц на изображении с электронного микроскопа является основой для анализа распределения скрытых дефектов на поверхности катализаторов. Кроме того, результаты вычисления признаков структурированности могут быть использованы как соответствующие обучающие прецеденты для построения систем предсказания каталитической активности на основе систем компьютерного зрения.

Ожидается

Исполнитель

Исполнители

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ТУЛЬСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ"

Заказчик

МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

Похожие документы

Программа автоматического вычисления физических характеристик наночастиц на основе СЭМ-изображений

0.899

РИД

Программа обнаружения наночастиц на изображениях с электронного микроскопа на основе метода экспоненциальной аппроксимации

0.870