РИД
№ 624101100187-3Расчет спектральных характеристик фотоэлектронного прибора с дифракционной решеткой
11.10.2024
Программа написана в среде Python и предназначена для определения спектральных характеристик фотоэлектронного прибора с дифракционной решеткой. Программа позволяет задавать характеристики прибора (размеры, расстояния от источника до дифракционной решетки и пр.), дифракционной решетки (размеры, период и пр.) и излучения (длина волны, угол падения и пр.).
В результате есть возможность вывода значения интегральной интенсивности, графиков зависимости интенсивности от угла падения и/или длины волны. Программа будет полезна для исследователей и разработчиков оптоэлектронных устройств, в которых применяются дифракционные решетки.
ГРНТИ
29.19.24 Электронная структура твердых тел
29.19.23 Теория электрических свойств твердых тел
29.19.31 Полупроводники
29.19.22 Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
Ключевые слова
концентрация примеси
полупроводниковый монокристаллический алмаз
легирование бором
Детали
НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
предназначена для определения спектральных характеристик фотоэлектронного прибора с дифракционной решеткой
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ "ЛЭТИ" ИМ. В.И. УЛЬЯНОВА (ЛЕНИНА)"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа расчета геометрических и оптических характеристик волоконно-оптического спектрометра
0.903
РИД
Программа расчета оптических свойств кристаллов на основе диэлектрических функций
0.903
РИД
Программа расчета оптических свойств кристаллов на основе диэлектрических функций
0.903
РИД
Программа для измерения спектральных характеристик структур, содержащих нанообъекты
0.896
РИД
Программа расчета профиля спектральной линии рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
0.896
РИД
Программное обеспечение для расчета спектра поглощения квантовых многоямных наноструктур
0.896
РИД
Программа для измерения спектральных характеристик материалов
0.895
РИД
Программа для расчета дифракционной эффективности и амплитуды поля первой пространственной
гармоники фоторефрактивной голограммы в кристаллах ниобата лития с поверхностным
легированием медью
0.893
РИД
Программа расчета спектральных характеристик фотонных кристаллов с монослоем наночастиц
0.892
РИД
Программа для моделирования спектров инфракрасного поглощения и отражения твердотельными плёнками в рамках модели Друде-Лоренца без учёта интерференции
0.890
РИД