Программа для автоматизации параметрического анализа синаптической пластичности мемристивных наноматериалов и кроссбар структур нейроморфной микроэлектронной компонентной базы

Программа предназначена для управления программно-аппаратным комплексом, разработанным на основе микроконтроллера ATmega2560. Исследование синаптической пластичности состоит из двух этапов. На первом этапе на тестируемое устройство подается пакет импульсов напряжения с заданными амплитудой и длительностью, на втором этапе подается точно такой же пакет импульсов напряжения, но с обратной полярностью. Таким образом, программа позволяет исследовать синаптическую пластичность на основе зависимости сопротивлений от количества циклов переключения тестируемого устройства. Программа предназначена для использования в научно-образовательных учреждениях и предприятиях электронной промышленности.