РИД
№ 623112700286-4Программа для автоматизации параметрического анализа временной стабильности резистивного переключения мемристивных наноматериалов и структур
27.11.2023
Программа предназначена для автоматизации параметризации мемристивных наноматериалов, в частности, временной стабильности резистивного переключения мемристивных наноматериалов и структур при помощи электрометра Keithley 6517B.
Приложение позволяет получать и визуализировать в реальном времени retention тест установленной длительности с заданными интервалами между импульсами и их длительностью. Пользователь может выбрать как сетку по времени с постоянной задержкой, так и с изменяющейся в геометрической прогрессии. Во втором случае пользователь указывает знаменатель геометрической прогрессии и выбирает, будет ли временная сетка гуще вначале или в конце измерения. Пользователем также определяются значения Uread, Ureset, и Uset. Для оптимизации затрачиваемых ресурсов, пользователь может указать временной интервал, которым будет ограничено отображение текущих результатов, или же полностью отключить эту опцию. Результаты измерения сохраняются в текстовый и графический файлы.
ГРНТИ
90.27.34 Измерения электрических и магнитных величин
50.53.15 Автоматизация процессов проведения научных экспериментов
50.53.17 Автоматизация сбора и обработки данных научного эксперимента
47.09.48 Наноматериалы для электроники
Ключевые слова
нейроморфная электроника
автоматизированные измерения
мемристивные свойства
Детали
НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа призвана автоматизировать процесс измерения, обработки и визуализации результатов параметризации мемристивных материалов позволяет снизить временные и денежные издержки потребителя при разработке устройств нейроморфной электроники.
Потенциальными покупателями являются научно-производственные центры и предприятия полупроводниковой промышленности, такие как ФГУП «РНИИРС» (г. Ростов-на-Дону), АО «Светлана-Рост» (г. Санкт-Петербург), НПП «Пульсар» (г. Москва) и др.
Также к потенциальным потребителям можно относятся научно-образовательные организации: НИУ «МИЭТ» (г. Москва), «ННГУ им. Н. И. Лобачевского» (г Нижний Новгород), НИЦ «Курчатовский институт» (г. Москва) и др.
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "ЮЖНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа для автоматизации параметрического анализа временной стабильности резистивного переключения мемристивных наноматериалов и структур
1.000
РИД
Программа для автоматизации параметрического анализа воспроизводимости резистивного переключения мемристивных наноматериалов и структур
0.986
РИД
Программа для автоматизации параметрического анализа воспроизводимости резистивного переключения мемриcтивных наноматериалов и структур
0.982
РИД
Программа для автоматизации параметрического анализа многоуровневого резистивного переключения нейроморфных структур
0.969
РИД
Программа для автоматизации параметрического анализа многоуровневого резистивного переключения нейроморфных структур
0.969
РИД
Программа для автоматизации параметрического анализа вольт-амперных характеристик мемристивных наноматериалов
0.968
РИД
Программа для автоматизации параметрического анализа вольт-амперных характеристик мемристивных наноматериалов
0.968
РИД
Программа расчета параметров резистивного переключения мемристорных структур на основе оксидов металлов
0.913
РИД
Программа для автоматизации параметрического анализа быстродействия резистивного переключения мемристивных кроссбар структур нейроморфной микроэлектронной компонентной базы
0.895
РИД
Программа для автоматизации параметрического анализа многоуровневого резистивного переключения мемристивных наноматериалов и кроссбар структур нейроморфной микроэлектронной компонентной базы
0.892
РИД