РИД
№ 624122700091-2Программа для вычисления удельной поверхности соприкосновения материалов
27.12.2024
Реферат:
Программа предназначена для вычисления удельной поверхности соприкосновения материалов на изображениях. Область применения: анализ качества покрытий. Программа позволяет загружать выбранные изображения и проводить анализ их структуры, автоматически определять количество пикселей на изображении, цветовой тип, сохранять обработанное изображение с выделенными контурами в файл. Тип ЭВМ: IBM PC. ОС: Windows 7/8/10/11, Linux Ubuntu 16/18/20/22.
Язык программирования: Java
Объем программы для ЭВМ: 26000 Б
ГРНТИ
61.43.29 Взрывчатые вещества
61.43.03 Энергоемкие химические вещества в целом
50.43.17 Системы автоматического управления, системы автоматического регулирования и системы автоматического контроля для дискретных процессов
Ключевые слова
технология обработки
эффективность
износостойкие и реакционноспособные покрытия
импортозамещение
взрывчатые и реакционные материалы
цифровой двойник
автоматизированная система контроля
Детали
НИОКТР
Тип РИД
Программа для ЭВМ
Сферы применения
Программа предназначена для вычисления удельной поверхности соприкосновения материалов на изображениях
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "САМАРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ"
Заказчик
МИНИСТЕРСТВО НАУКИ И ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Похожие документы
Программа для выделения частиц на изображениях композиционных покрытий
0.884
РИД
Программа полуавтоматической сегментации и количественного анализа двумерных кристаллитов на микроскопических изображениях
0.872
РИД
Расчёт площади межфазной поверхности по чёрно-белому изображению, полученному в результате сквозного прохождения света сквозь пузырьковую жидкость
0.867
РИД
Программа для автоматического расчета количества и площади металлических частиц при восстановлении металлов из оксидов по изображению шлифа с оптического микроскопа
0.866
РИД
Программа для анализа фотоизображений и вычисления суммарного объема эллипсоидальных капельных агрегатов в магнитной жидкости
0.863
РИД
Программа обработки фотографий микроструктуры образцов с распределением частиц по размерам и форме
0.862
РИД
Программа для определения пространственных характеристик растекающейся капли жидкости на горизонтальных, гидрофильных, однородных и структурированных пленками наноматериалов поверхностей посредством выделения контура капли алгоритмами компьютерного зрения
0.860
РИД
Программа расчета величины средней взаимной информации поверхностей металлполимерных наноматериалов
0.858
РИД
Программа автоматического вычисления физических характеристик наночастиц на основе СЭМ-изображений
0.857
РИД
Программа для тестирования поверхностной энергии полимерных материалов
0.857
РИД