Диссертация
№ 422100500011-4

Влияние двухкатионного замещения на низкоэнергетическую электродинамику гексаферритов М-типа

05.10.2022

Диссертация «Влияние двойного катионного замещения на низкоэнергетическую электродинамику гексаферритов М-типа» посвящена выявлению фундаментальных физических механизмов, определяющих диэлектрические свойства гексаферритов М-типа. В диссертации использован набор спектроскопических методов, которые позволили провести первые тщательные и систематические измерения диэлектрического отклика (спектров комплексной диэлектрической проницаемости) Ba1-xPbxAlyFe12-yO19, x(Pb)=0,0–0,8, y(Al)=0,0–3,3, в беспрецедентно широком диапазоне частот (1 Гц - 240 ТГц) в условиях легирования различными ионами и в широком интервале температур от 5 К до 300 К. В течение последних нескольких лет материалы на основе гексаферритов вызывают все возрастающий интерес со стороны материаловедения в связи с их применением в технике и приборостроении: в постоянных магнитах, магнитных записывающих носителях высокой плотности, для хранения данных, в качестве материалав микроволновых устройств, фазовращателей, излучателей, резонаторов, поглотителей электромагнитных волн и др. В то же время электродинамические свойства гексаферритов М-типа, особенно на субтерагерцовых и терагерцовых частотах, остаются практически неизученными, а механизмы, определяющие эти свойства, до сих пор далеки от понимания. Еще одним достоинством гексаферритов является то, что их физические свойства можно легко настроить для использования в потенциальных приложениях.
ГРНТИ
29.19.35 Сегнетоэлектрики и антисегнетоэлектрики
29.31.27 Взаимодействие оптического излучения с веществом
29.31.26 Спектроскопические методы и методики
29.19.33 Диэлектрики
29.19.07 Колебания кристаллических решеток
Ключевые слова
Терагерцовая спектроскопия
ИК-Фурье спектроскопия
Занятость сайта Al в БаМ
Диэлектрические свойства
Мультиферроики
Гексаферрит М-типа
Детали

Автор
Ахмед Асмаа Гамаль Мохамед
Вид
Кандидатская
Целевое степень
Кандидат физико-математических наук
Дата защиты
16.09.2022
Организация защиты
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ)"
Организация автора
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ АВТОНОМНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МОСКОВСКИЙ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ)"
Похожие документы
Влияние двойного катионного замещения на диэлектрические свойства монокристаллов гексаферрита бария Ba(1-x)Pb(x)Fe(12-y)Al(y)O(19)
0.946
НИОКТР
Влияние двойного катионного замещения на диэлектрические свойства монокристаллов гексаферрита бария Ba(1-x)Pb(x)Fe(12-y)Al(y)O(19)
0.946
НИОКТР
Влияние двойного катионного замещения на диэлектрические свойства монокристаллов гексаферрита бария Ba(1-x)Pb(x)Fe(12-y)Al(y)O(19) (1й этап)
0.942
ИКРБС
Влияние двойного катионного замещения на диэлектрические свойства монокристаллов гексаферрита бария Ba(1-x)Pb(x)Fe(12-y)Al(y)O(19) (2й этап)
0.938
ИКРБС
Терагерцовая-субтерагерцовая спектроскопия легированных свинцом монокристаллов гексагонального феррита бария – материала нового поколения электронных устройств
0.916
НИОКТР
Терагерцовая-субтерагерцовая спектроскопия легированных свинцом монокристаллов гексагонального феррита бария – материала нового поколения электронных устройств
0.916
НИОКТР
Отчет о выполнении проекта № 19-72-00055 «Терагерцовая-субтерагерцовая спектроскопия легированных свинцом монокристаллов гексагонального феррита бария – материала нового поколения электронных устройств»
0.915
ИКРБС
ВЛИЯНИЕ ДЕФОРМАЦИОННЫХ НАПРЯЖЕНИЙ И ХИМИЧЕСКОГО ДАВЛЕНИЯ НА ЦЕНТРОСИММЕТРИЧНОСТЬ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ КВАНТОВЫХ ПАРАЭЛЕКТРИКОВ
0.910
ИКРБС
ВЛИЯНИЕ ДЕФОРМАЦИОННЫХ НАПРЯЖЕНИЙ И ХИМИЧЕСКОГО ДАВЛЕНИЯ НА ЦЕНТРОСИММЕТРИЧНОСТЬ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ КВАНТОВЫХ ПАРАЭЛЕКТРИКОВ
0.907
ИКРБС
Мультиферроики II-го типа и наноструктуры на их основе: исследование связи особенностей фазовых состояний с откликом на внешние магнито-электрические воздействия методами радио-терагерцовой-инфракрасной спектроскопии
0.904
ИКРБС