ИКРБС
№ АААА-Б16-216112240024-1Материалы и приборы на основе гетероэпитаксиальных пленок полупроводниковых и ферромагнитных соединений на кремнии
31.10.2016
Рассмотрены подходы к созданию кремний-силицидных оптопар с возможностью их реализации в рамках кремниевой КМОП-технологии. В основе предложенных и испытанных фотодиодов и светодиодов используется активный слой из встроенных в кремниевую монокристаллическую матрицу мультислоев нанокристаллитов β-FeSi₂ или β-FeSi₂ и CrSi₂. Разработана методология исследования. Исследован рост слоистых структур, состоящих из атомно-наноразмерных покрытий ферромагнитных металлов. Получены доказательства спектральной чувствительности кремний-силицидных фотодиодов в области 0.4 - 1.8 мкм и их излучения при комнатной температуре и длине волны 1.5 - 1.6 мкм. Установлено, что для увеличения эффективности светодиодов и фотодиодов со встроенными НК β-FeSi₂ необходимо увеличить слоевую и объемную плотность НК β-FeSi₂ или β-FeSi₂ и CrSi₂ размерами 15 - 20 нм, оптимизировать конструкцию диода и ростовые процедуры встраивания НК для уменьшения плотности малых НК β-FeSi₂. Проведен обзор методик и разработаны основы методологии комбинированного AES-EELS-анализа слоистых ферромагнитных наноструктур, которая обеспечивает систематическую информацию о структурно-фазовом состоянии атомно-наноразмерных пленок и механизме их роста и включает в себя: анализ при глубине зондирования в 3 монослоя; количественный итерационный оже-анализ; анализ по форме и энергии потерь в EELS с вычитанием вклада от подложки; анализ с использованием оже-сателлитов; профилирование по глубине с использованием зависимости EELS от первичной энергии электронов. С помощью разработанной методологии обнаружено специфическое нанофазное состояние на начальной стадии роста металла на кремнии, которое характеризуется неоднородной и необъемной по величине плотностью атомов и определяет дальнейший механизм роста пленки.
ГРНТИ
29.31.23 Люминесценция
29.19.16 Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела
47.33.33 Оптоэлектронные приборы
Ключевые слова
ДИСИЛИЦИД ЖЕЛЕЗА
НАНОКРИСТАЛЛЫ
КРЕМНИЕВАЯ МАТРИЦА
ЭПИТАКСИЯ
ДИОДЫ
ЭЛЕКТРОЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ
ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ
ОПТОПАРЫ
СЛОИСТЫЕ НАНОСТРУКТУРЫ
ИНТЕРФЕЙС
РОСТ
AES-EELS ЭЛЕМЕНТНЫЙ И ФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ
ПРОФИЛИРОВАНИЕ ПО ГЛУБИНЕ
АТОМНО-МАСШТАБНОЕ РАЗРЕШЕНИЕ
Детали
Заказчик
Дальневосточное отделение Российской академии наук
Исполнитель
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения Российской академии наук
Похожие документы
Материалы и приборы на основе гетероэпитаксиальных пленок полупроводниковых и ферромагнитных соединений на кремнии
0.977
ИКРБС
Материалы и приборы на основе гетероэпитаксиальных пленок полупроводниковых и ферромагнитных соединений на кремнии
0.941
НИОКТР
Комплексные исследования мультислойных гетероструктур на основе кремния и двух типов нанокристаллов узкозонных полупроводников для оптоэлектроники и термоэлектроники
0.939
НИОКТР
Создание платформы на основе подложки класса «кремний-на-изоляторе» для эпитаксии слоев AIIIBV
0.931
Диссертация
Кристаллическая структура и оптоэлектронные свойства кремниевых диодов со встроенными нанокристаллами полупроводниковой фазы дисилицида железа
0.930
Диссертация
Структурные, оптические и электрофизические свойства низкоразмерных гетероструктур полупроводник-диэлектрик на основе элементов и соединений IV группы, их оксинитридов и оксидов металлов для нано-, нейроморфной электроники и квантовой информатики
0.929
ИКРБС
Оптимизация условий роста p-i-n-диодов на неориентированных подложках с внедренными НК силицидов Ca, Mg и Cr в кремниевую активную область
0.928
ИКРБС
ИССЛЕДОВАНИЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ НАНОГЕТЕРОСТРУКТУР 2-ГО РОДА С ЛЕГИРОВАННЫМИ МАГНИТНОЙ ПРИМЕСЬЮ СЛОЯМИ ДЛЯ СОЗДАНИЯ ПРИБОРОВ СПИНТРОНИКИ(ПРОМЕЖУТОЧНЫЙ)
0.927
ИКРБС
Формирование и термоэлектрические свойства кремниевых гетероструктур со встроенными нанокристаллами антимонида галлия
0.926
Диссертация
Физико-технологические основы создания гетероструктур на базе элементов IV группы, совместимых с современной кремниевой технологией, для устройств фотоники
0.925
ИКРБС