ИКРБС
№ АААА-Б18-218051590058-8Электронные и оптические явления в полупроводниковых наноструктурах
29.01.2018
Объект исследования: гетероструктуры Ge/Si с квантовыми точками Ge, гетероструктуры GaAs/AlGaAs, пористый Si и слои аморфного Si. Цели: установление электронных и оптических явлений в гетероструктурах с ансамблем квантовых точек, возможностей усиления фототока в гибридных гетероструктурах; выяснение путей повышение квантовой эффективности люминесценции наногетероструктур Ge/Si с квантовыми точками; разработка аналитических методов вычисления распределения упругой деформации в полупроводниковых гетероструктурах; установление физических особенностей полупроводниковых наноэлектромеханических систем на основе гетероструктур GaAs/AlGaAs; развитие низкотемпературных методов формирования нанокристаллов кремния/германия и слоев Ge/Si на неориентирующих подложках с использованием плазменных технологий и импульсных лазерных отжигов, а также разработка сенсора пульсовой волны. Установлено, что в гибридных инфракрасных фотодетекторах среднего ИК-диапазона на базе гетероструктур Ge/Si p-типа, содержащих плотные слои квантовых точек Ge и двумерные регулярные решетки субволновых отверстий в золотой пленке на поверхности полупроводника, происходит многократное (до 30 раз) усилению фототока. Разработана физическая модель, позволяющая качественно и количественно описать изменение проводимости двумерного электронного газа при механических колебаниях содержащих его мембран и наноструктур. Предложены подходы к формированию и модификации нанокристаллов Si и SiGe в различных матрицах с использованием плазмохимического осаждения и распыления в высоком вакууме, а также импульсных лазерных отжигов и воздействий тяжёлыми ионами высоких энергий. Разработан и запатентован датчик пульсовой волны. Результаты исследования могут быть применены для разработки матричных фотодетекторов среднего и дальнего инфракрасного диапазонов, светодиодов на основе кремния, создания медицинских устройств регистрации пульсовой волны, электрокинетических сенсоров расхода жидкости.
ГРНТИ
29.19.22 Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
29.19.16 Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела
29.19.31 Полупроводники
Ключевые слова
КВАНТОВЫЕ ТОЧКИ
ЭЛЕКТРОННЫЕ
ОПТИЧЕСКИЕ
СПИНОВЫЕ
ПЛАЗМОННЫЕ ЯВЛЕНИЯ
ДВУМЕРНЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ ГАЗ
МОЛЕКУЛЯРНО-ЛУЧЕВАЯ ЭПИТАКСИЯ
ИОННАЯ ИМПЛАНТАЦИЯ
Детали
Заказчик
Федеральное агентство научных организаций
Исполнитель
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук
Похожие документы
ЭЛЕКТРОННЫЕ И ОПТИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ НАНОСТРУКТУРАХ
0.960
ИКРБС
Электронные и оптические явления в полупроводниковых наноструктурах
0.942
НИОКТР
Физико-технологические основы создания гетероструктур на базе элементов IV группы, совместимых с современной кремниевой технологией, для устройств фотоники
0.941
ИКРБС
Наногетероструктуры Ge/Si с квантовыми точками
0.939
ИКРБС
Структурные, оптические и электрофизические свойства низкоразмерных гетероструктур полупроводник-диэлектрик на основе элементов 4 группы и соединений А3В5, нитридов, оксидов и металлов для нано-, нейроморфной электроники и квантовой информатики
0.937
ИКРБС
Структурные, оптические и электрофизические свойства низкоразмерных гетероструктур полупроводник-диэлектрик на основе элементов 4 группы и соединений А3В5, нитридов, оксидов и металлов для нано-, нейроморфной электроники и квантовой информатики
0.937
ИКРБС
Разработка физико-технологических основ создания оптических гетероструктур, полупроводниковых наноразмерных пленок и объемных структур оксидов и халькогенидов галлия и исследование процессов преобразования частоты, фотогальванических и электрооптических эффектов при взаимодействии с излучением оптического и терагерцевого диапазонов
0.934
ИКРБС
Электронные, спиновые и оптические свойства полупроводниковых наногетероструктур и структур металл-полупроводник
0.933
НИОКТР
Управление оптическими свойствами полупроводниковых GeSi гетероструктур c квантовыми точками с помощью встроенных деформационных полей и деформаций, создаваемых внешними источниками
0.933
НИОКТР
Структура и механизмы формирования поверхности, границ раздела и дефектов полупроводниковых наносистем
0.932
ИКРБС