СПОСОБ ТЕСТИРОВАНИЯ СВЕТОДИОДА

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для тестирования качества полупроводниковых приборов, в частности, светодиодов. Сущность заявляемого изобретения заключается в том, что в способе тестирования светодиода, включающем пропускание через светодиод ступенчато изменяющегося электрического тока и определение теплового сопротивления светодиода путем обработки измеренных значений температурочувствительного параметра, согласно изобретению определяют первое и второе значения теплового сопротивления светодиода при двух значениях пропускаемого через светодиод тока и на их сравнении оценивают степень его дефектности. Техническим результатом применения изобретения, является повышение чувствительности способа тестирования и снижение временных затрат.