РИД
№ АААА-Г17-617030210101-0Заявка на патент РФ № 2015121280. Способ измерения переходной тепловой характеристики светоизлучающего диода
02.03.2017
Измерение температуры активной области светоизлучающих диодов. Инжекционный ток подают в виде последовательности импульсов нарастающей длительности
ГРНТИ
47.14.07 Проектирование и конструирование полупроводниковых приборов и приборов микроэлектроники
Ключевые слова
ПЕРЕХОДНАЯ ТЕПЛОВАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА
СВЕТОИЗЛУЧАЮЩИЕ ДИОДЫ
Детали
НИОКТР
№ 115050610091
Тип РИД
Изобретение
Ожидается
Исполнитель
Исполнители
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А.Котельникова Российской академии наук
Заказчик
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур Российской академии наук
Похожие документы
Заявка на патент РФ № 2016111836. Способ измерения теплового импеданса светодиодов
0.957
РИД
Заявка на патент РФ № 2016111836. Способ измерения теплового импеданса светодиодов
0.956
РИД
Заявка на патент РФ № 2016115526. Способ измерения переходной тепловой характеристики полупроводниковых изделий
0.928
РИД
заявка на патент 2016115526 . Способ измерения переходной тепловой характеристики полупроводниковых изделий
0.917
РИД
Патент 2789118 "Способ измерения внутреннего квантового выхода светодиода"
0.910
РИД
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПО ПОВЕРХНОСТИ СВЕТОДИОДА
0.903
РИД
Патент РФ № 2572794. Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус мощных МДП - транзисторов
0.900
РИД
СПОСОБ ТЕСТИРОВАНИЯ СВЕТОДИОДА
0.897
РИД
Способ измерения порогового тока светодиода
0.894
Промышленная инновация
Патент на изобретение 2572794 . Способ измерения теплового сопротивления переход-корпум мощных МДП - транзисторов
0.890
РИД